Microscopia elettronica
Prodotti – Microscopia elettronica
High Vacuum Thermal Evaporation Carbon Coater (SD-100AF)
Avizo Software
Accessori e Consumabili per Microscopia Elettronica
Tecnologia CHEMISEM
MAPS
SEM da banco Phenom XL G2
SEM da banco Phenom Pure G6
Phenom Pro Suite
SEM da banco Phenom Pro G6
SEM da banco Phenom Pharos G2
Phenom ParticleX
Phenom Asbestosmetric
LUXORAu
LUXOR Platinum Coater
Axia ChemiSEM
Articoli – Microscopia elettronica
Caratterizzazione TEM in situ delle proprietà elettriche dei nanofili semiconduttori
Analisi dei difetti dei rivestimenti automobilistici
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Esistono target di sputtering alternativi all’oro economici? (Strategie di sostituzione per i coater tradizionali in un contesto di aumento dei prezzi dell’oro)
Soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e l’analisi dei materiali – 13 Novembre
Caratterizzazione di inclusioni complesse nell’acciaio mediante tecnologia ChemiSEM
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VPI SD-900M Magnetron Sputter Coater per preparazione campioni SEM in un laboratorio materiali per lo studio di batterie
Caratterizzazione di materiali sensibili tramite SEM-FEG in GloveBox
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Soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e l’analisi dei materiali
Analisi su micro e nano scala di un carrello di atterraggio in acciaio inox passivato tramite tecnica XPS, SEM e TEM
Micro- and nano-scale analysis of passivated stainless-steel landing gear with XPS, SEM, and TEM
Roadshow Caratterizzazione Materiali 2025
Caratterizzazione multiscala di leghe per additive manufacturing – Identificazione di inclusioni e precipitati di superleghe mediante SEM e TEM
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Analisi SEM automatizzata di particelle intermetalliche in leghe di alluminio
Stato dell’arte di normative e tecniche strumentali per l’analisi ambientale
Analisi di inclusione di acciaio trattato con un complesso di titanio e magnesio – prova di fusione di lega e affinazione in officina valutata con microscopia elettronica a scansione (sem) automatizzata
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METAL INJECTION MOULDING M.I.M.- Tecniche complementari per la caratterizzazioni delle polveri
Valutazione dei contaminanti all’interno dei materiali delle batterie tramite Axia ChemiSEM
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Imaging con SEM delle polveri metalliche per uso Additive Manufacturing
Caratterizzazione dei filler per pneumatici con Axia ChemiSEM
Nano-in-microparticelle intelligenti per affrontare le infezioni batteriche nell’ingegnerizzazione di tessuti cutanei
L’utilizzo del SEM per la caratterizzazione di particelle
Migliorare la consistenza dei sostituti della carne con gli estrusori ed il microscopio SEM
Caratterizzazione di refrattari complessi per la produzione di acciaio utilizzando l’Axia ChemiSEM
Nano-in-microparticelle intelligenti per affrontare le infezioni batteriche nell’ingegnerizzazione di tessuti cutanei
Immagini SEM ad alta risoluzione con lo sputter coating per campioni biologici: le membrane di collagene
Polveri metalliche per la produzione additiva
Caratterizzare le batterie a ioni di Litio con il Phenom XL G2 Argon Compatibile – utilizzo del SEM in atmosfera controllata ad Argon
Microscopia ottica vs. Microscopia elettronica: quale tecnica scegliere?
Migliorare la consistenza dei sostituti della carne con gli estrusori ed il microscopio SEM
Virtual Roadshow Microscopia SEM desktop e da pavimento Phenom XL Thermo Scientific
L’analisi dell’amianto con il microscopio elettronico a scansione (SEM)
L’utilizzo del SEM per la caratterizzazione di particelle
L’applicazione degli ultra-Nano Clusters Silver (SUNC) con effetto antimicrobiotico e antibiofilm contro il batterio Helicobacter pylori
Webinar l’uso del SEM accoppiato all’EDS per analisi automatizzata di polveri e filtri
Webinar Additive manufacturing: soluzioni per la caratterizzazione di polveri metalliche
Webinar nanofibre filtri e membrane caratterizzazione con microscopia elettronica e porom
SEM da banco Phenom: una risposta innovativa per ridurre la probabilità di insuccesso degli impianti dentali
Soluzioni per la caratterizzazione delle polveri metalliche
