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Tecniche

Failure Analysis

Il microscopio elettronico a scansione (SEM) è lo strumento ideale per verificare la presenza di micro-difetti su campioni provenienti dai più svariati settori industriali (meccanica di precisione, automotive, aerospaziale, metallurgico, chimico, microelettronica etc.).
I SEM da banco della PhenomWorld uniscono prestazioni di alto livello a velocità e semplicità d'uso senza uguali, rendendo la microscopia elettronica accessibile a tutti i laboratori, sia per il controllo qualità che per la ricerca e sviluppo.
I software opzionali (3D Roughness Reconstruction, Fibermetric, Particlemetric e Porometric) permettono infine di estendere al massimo il tipo di caratterizzazioni effettuabili sul campione.