LuxorC
Il carbon coater LUXORC è un dispositivo di coating avanzato, completamente automatizzato che applic...
Failure Analysis
Prodotti – Failure Analysis
High Vacuum Thermal Evaporation Carbon Coater (SD-100AF)
Il Thermal Evaporation Carbon Coater è uno strumento essenziale per la preparazione di campioni TEM ...
Jupiter Discovery AFM
Il microscopio a forza atomica Jupiter Discovery offre una combinazione unica di prestazioni di prim...
Avizo Software
Avizo Software di Thermo Fisher Scientific è una potente piattaforma per la visualizzazione e l’anal...
Accessori e Consumabili per Microscopia Elettronica
La preparazione dei campioni è fondamentale per ottenere risultati precisi e affidabili nelle analis...
Tecnologia CHEMISEM
La sintesi tra imaging SEM e analisi EDS
Storicamente, nella maggior parte delle applicazioni, il m...
MAPS
Il software MAPS 3 è la soluzione definitiva per operare in modo automatizzato e effettuare analisi ...
AFM VERO
Il microscopio a forza atomica Vero è un AFM di nuova generazione che misura con precisione e accura...
AFM MFP-3D
La serie di AFM MFP-3D rappresenta il perfetto connubio tra prestazioni e convenienza. Sono sistemi ...
AFM Cypher
La serie di AFM Cypher di Asylum Research-Oxford Instruments rappresenta lo stato dell’arte della mi...
Serie Attension Sigma Tensiometri a forza
Biolin Scientific propone una vasta gamma di tensiometri a forza (linea Attension Sigma) per soddis...
NEXTA DMA200
La tecnica di analisi dinamico-meccanica (DMA) permette di misurare con la massima sensibilità le tr...
SEM da banco Phenom XL G2
Il SEM da banco Phenom XL, serie dal grande successo commerciale, garantisce massime prestazioni ed ...
SEM da banco Phenom Pure G6
Convenienti e flessibili per le esigenze essenziali di microscopia.
I SEM compatti della serie Phen...
Phenom Pro Suite
Nell’interfaccia a schermo unico 24’’ sono stati inseriti tutti i pacchetti software Phenom Pro Suit...
SEM da banco Phenom Pro G6
I Microscopi Elettronici a Scansione della serie Phenom Pro sono SEM compatti in grado di garantire ...
SEM da banco Phenom Pharos G2
Il Phenom Pharos ha rappresentato una pietra miliare nella microscopia elettronica, essendo il primo...
Phenom ParticleX
Il Phenom ParticleX è il SEM da banco ideale per eseguire analisi automatizzata alla ricerca di polv...
LUXORAu
Il LUXOR Gold Coater, strumento di sputtering avanzato e completamente automatizzato, applica un riv...
LUXOR Platinum Coater
Il LUXOR Platinum Coater strumento di sputtering altamente innovativo e completamente automatizzato,...
TMA7100 e TMA7300
L’analisi termo meccanica Hitachi permette di valutare fenomeni di espansione o contrazione dei camp...
Axia ChemiSEM
L’Axia ChemiSEM rappresenta la scelta ideale per chi cerca un microscopio elettronico a scansione ch...
Tecniche – Failure Analysis
Solidi, Materiali
Microscopia a forza atomica AFM
La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica di imaging ad alta risoluzione che permette di ot...
Solidi, Polveri
Microscopia elettronica – Spettroscopia EDX
I SEM da banco Phenom della Thermo Scientific garantiscono velocità, facilità d'uso e altissime pres...
Materiali, Solidi, Polveri
Microscopia elettronica a scansione (SEM)
La microscopia elettronica è una tecnica che sfrutta l’interazione tra un fascio di elettroni e gli ...
Articoli – Failure Analysis
Video
Roadshow Caratterizzazione Materiali 2025
Alfatest propone la registrazione della sessione mattutina del Roadshow Caratterizzazione Materiali ...
Pubblicazioni
Hitachi RealView: visibly better thermal analysis
Presentazione a cura del nostro specialista Stefano Del Buffa sulla linea di strumenti NEXTA Hitachi...
Video
Tecniche di caratterizzazione di analisi termica
Scopri l’estrema robustezza, sensibilità ed accuratezza degli strumenti Hitachi High-Tech, riferimen...
Video
Virtual Roadshow Microscopia SEM desktop e da pavimento Phenom XL Thermo Scientific
Una settimana per scoprire on-line, sia dal punto di vista teorico che pratico, tutta la nostra stru...
Video
Webinar l’uso del SEM accoppiato all’EDS per analisi automatizzata di polveri e filtri
Il SEM con EDS accoppiato ad un software d’immagine permette l’analisi di polveri e filtri in manier...