Il microscopio a forza atomica (AFM) Vero utilizza un design brevettato basato su un rilevatore interferometrico per misurare direttamente lo spostamento della punta, introducendo una precisione senza precedenti nel campo degli AFM. […] La maggior parte degli AFM è in grado di misurare lo spostamento della punta soltanto attraverso una misura calibrata della variazione della deflessione o dell’angolo del cantilever e questo è, inevitabilmente, causa di possibili fonti di errore. Molti fenomeni fisici possono influenzare la deflessione o l’angolazione del cantilever , come ad esempio forze di natura elettrostatica o altre forze planari o longitudinali che agiscono tra la punta e il campione. La modalità PFM (piezoresposnvie force microscopy), attraverso la quale è possibile caratterizzare la risposta elettromeccanica di un campione alla nanoscala, è particolarmente interessata da artefatti e da possibili interpretazioni errate. In questa nota applicativa vengono descritti in modo dettagliato i possibili artefatti di una misura PFM e vengono mostrati i vantaggi tecnici del sistema QPDI implementato nel nuovo AFM Vero.

Vero è un AFM di nuova generazione della Oxford Instruments Asylum Research ed è il primo ad utilizzare un rivelatore brevettato a interferometria differenziale in quadratura di fase (QPDI), in grado di fornire prestazioni senza precedenti in termini di precisione e rumore strumentale. Questo documento descrive il contesto storico dei metodi di rilevamento AFM, il progetto e le specifiche tecniche raggiunte dal nuovo AFM Vero e spiega come i suoi elevati standard di accuratezza e precisione di misura potranno contribuire alla ricerca scientifica nel campo della microscopia a forza atomica.

La contaminazione è un problema importante nel processo di produzione delle batterie. Dalla produzione del catodo, dell’anodo e dalla cella della batteria all’assemblaggio e al collaudo del modulo della batteria, i contaminanti sono un problema in ogni fase del processo di produzione. L’esistenza dei contaminanti presenti nella batteria possono causare un’ampia gamma di problemi. Di conseguenza, è essenziale per chi studia tali materiali ottenere una comprensione approfondita dei contaminanti che si riscontrano nel processo di produzione delle batterie. La combinazione di un microscopio elettronico a scansione (SEM) e della spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) può essere utilizzata per sondare sia la struttura che le informazioni elementari dei contaminanti nei materiali delle batterie. In questa nota applicativa, introduciamo un metodo rapido e semplice per caratterizzare questi contaminanti tramite l’Axia™ ChemiSEM Thermo Scientific™, una nuova piattaforma SEM progettata per portare velocità e semplicità all’analisi microstrutturale dei materiali e alla scoperta dei difetti.