L’AFM interferometrico Vero – Progressi nella precisione per la microscopia di forza a risposta piezoelettrica

Il microscopio a forza atomica (AFM) Vero utilizza un design brevettato basato su un rilevatore interferometrico per misurare direttamente lo spostamento della punta, introducendo una precisione senza precedenti nel campo degli AFM. […] La maggior parte degli AFM è in grado di misurare lo spostamento della punta soltanto attraverso una misura calibrata della variazione della deflessione o dell’angolo del cantilever e questo è, inevitabilmente, causa di possibili fonti di errore. Molti fenomeni fisici possono influenzare la deflessione o l’angolazione del cantilever , come ad esempio forze di natura elettrostatica o altre forze planari o longitudinali che agiscono tra la punta e il campione. La modalità PFM (piezoresposnvie force microscopy), attraverso la quale è possibile caratterizzare la risposta elettromeccanica di un campione alla nanoscala, è particolarmente interessata da artefatti e da possibili interpretazioni errate. In questa nota applicativa vengono descritti in modo dettagliato i possibili artefatti di una misura PFM e vengono mostrati i vantaggi tecnici del sistema QPDI implementato nel nuovo AFM Vero.