MFP-3D Origin AFM 

L’MFP-3D Origin™ offre prestazioni e qualità Asylum Research a un prezzo competitivo con la maggior parte degli AFM a basso costo. Origin segna l’intersezione tra prestazioni e convenienza e offre immagini ad alta risoluzione, supporta campioni di grandi dimensioni, la maggior parte delle modalità di imaging e numerosi accessori. È semplicemente lo strumento migliore per iniziare con l’AFM! 

Principali caratteristiche 

• Imaging ad alta risoluzione sia in aria che in fluido – Campo XY di 120 µm e Z di 15 µm (40 µm opzionale) 
• Misure di forza accurate e a basso rumore 
• Il moderno design dello scanner flessibile e sensorizzato rende l’AFM più facile da usare e migliora l’accuratezza delle misure 
• Engage & scan veloci, facili e affidabili 
• Ogni fase del funzionamento è semplice ed intuitiva, consentendo una notevole produttività:  

• SmartStartTM riconoscimento e configurazione automatica dei componenti del sistema per ottenere rapidamente i risultati 
• ModeMaster™ configura automaticamente il software per la modalità selezionata 
• GetReal™ calibra automaticamente la costante elastica e la sensibilità del cantilever 
• GetStarted™ imposta automaticamente i parametri ottimali per l’acquisizione di immagini in modalità “tapping” 

• Modalità di caratterizzazione nanomeccanica disponibili per la misurazione delle proprietà viscoelastiche  
• Ampia gamma di modalità di caratterizzazione nanoelettrica ed elettromeccanica 

• Controllo della temperatura fino a 275°C 
• Opzioni per misure in ambiente liquido o gassoso  

Moduli inclusi: contact mode, dual AC Resonance Tracking (DART), dual AC Resonance Tracking PFM (DART-PFM), dual ACTM, electrostatic force microscopy (EFM), force curves, force mapping mode (force volume), force modulation, frequency modulation, Kelvin probe force microscopy (KPFM), lateral force mode (LFM), loss tangent imaging, magnetic force microscopy (MFM), nanolithography, nanomanipulation, phase imaging, piezoresponse force microscopy (PFM),  tapping mode (AC mode), tapping mode with digital Q control, vector PFM

Moduli opzionali: AM-FM viscoelastic mapping mode, conductive AFM (CAFM), scanning thermal microscopy (SThM), scanning tunneling microscopy (STM)

Moduli opzionali MFP-3D-Origin+: AM-FM viscoelastic mapping mode, contact resonance viscoelastic mapping mode, conductive AFM (CAFM), high voltage PFM, scanning microwave impedance microscopy (sMIM), scanning thermal microscopy (SThM), scanning tunneling microscopy (STM)

MFP-3D BIO AFM 

Il sistema MFP-3D-BIO stabilisce lo standard per l’integrazione di AFM e microscopia ottica per la ricerca nelle bioscienze. È l’unico bio-AFM che non scende a compromessi per quanto riguarda la risoluzione dell’imaging AFM, le prestazioni di misurazione della forza o la versatilità dell’applicazione, pur integrandosi perfettamente con una gamma completa di tecniche ottiche. Questo, insieme all’impareggiabile supporto degli esperti Asylum, lo rende l’AFM migliore e più produttivo per far progredire la vostra ricerca. 

Principali caratteristiche 

• Illuminazione o visualizzazione con ottica integrata dall’alto verso il basso 
• Navigazione ottica in tempo reale 
• L’obiettivo di alta qualità consente una facile visualizzazione di campioni opachi, l’allineamento laser e può essere utilizzato come condensatore per l’illuminazione in campo chiaro o a contrasto di fase su campioni trasparenti 
• Potenti opzioni di rendering in tempo reale e offline, tra cui sovrapposizioni di immagini ottiche e AFM 
• Supporta numerose tecniche ottiche come campo chiaro, contrasto di fase, epifluorescenza, microscopia confocale, TIRF, FRET, FCS, FRAP, indicatori ionici (ad es. risposta al Ca2+) 
• Risoluzione della forza limitata termicamente (<8 pm di rumore di deflessione tipico, <20 pm garantito) 
• L’ampio intervallo Z (15 µm standard, 40 µm opzionale) consente di soddisfare le applicazioni più complesse, come le misure di adesione cellula-cellula e cellula-substrato. 
• La mappatura della forza (force mapping) misura le curve forza-distanza su una griglia di punti con adattamento automatico dei modelli di indentazione per la stima del modulo elastico e l’analisi automatizzata della forza di adesione/rottura 
• Suite completa di modalità di caratterizzazione nanomeccanica disponibile per la misurazione delle proprietà viscoelastiche 
• Gamma impareggiabile di modalità di caratterizzazione nanoelettrica ed elettromeccanica 
• Accessori unici per l’applicazione di forze esterne ad un’ampia gamma di campioni