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Phenom XL

Il Phenom XL è un microscopio elettronico a scansione SEM compatto di ultima generazione che introduce una serie di utilissime innovazioni, tra le quali una camera di dimensione 100mmx100mm, con un porta-campioni in grado di alloggiare fino a 36 stub contemporaneamente. Nonostante ciò riesce anche a garantire velocità di caricamento e scaricamento del campione unici sul mercato, potendo ottenere un immagine SEM in meno di 40 secondi, grazie ad un sistema appositamente brevettato. L'interfaccia di utilizzo dello strumento resta semplice ed intuitiva, come da prerogativa dei microscopi elettronici a scansione SEM compatti Phenom, anche grazie alla camera ottica a colori che funge da navigatore, e rende quindi la microscopia elettronica davvero accessibile a tutti.

2018 Brochure Phenom XL

Il Phenom XL monta come detector standard un Backscatter Detector (BSD) a quattro segmenti che fornisce immagini chiare ed ottimamente contrastate, ma può essere equipaggiato anche con un Secondary Electron Detector (SED) per ottenere maggiori dettagli superficiali, oltre che con una microsonda EDS completamente integrata (come da prassi Phenom), per microanalisi puntuali o mapping. La sorgente in Esaboruro di Cerio garantisce risoluzione, brillantezza e durata, oltre ad un segnale ottimizzato per la microsonda EDS.

Anche per il microscopio elettronico Phenom XL è disponibile il pacchetto Pro Suite che comprende tutta una serie di applicazioni in grado di estendere il tipo di caratterizzazioni effettuabili (Particlemetric, Porometric, Fibermetric, 3D Roughness Reconstruction etc.). Per saperne di più visitate la pagina dedicata.

Specifiche del Phenom XL:

• campo d'ingrandimento: 80-100.000x
• risoluzione: <14nm
• CCD camera a colori integrata "single shot" per la navigazione sul campione: 3-16X
• campo di elementi rilevabili: B-Am
• sorgente di lunga durata ed elevata luminosità (CeB6)
• backscatter detector con modalità composizionale o topografica
• campo di voltaggio: Defaut (5, 10 e 15 kV) - Modalità avanzata (nel range tra 4,8 kV e 20,5 kV)
• caricamento del campione in meno di 40 secondi (5 secondi per la camera ottica)
• formato delle immagini: jpg, tiff, bitmap
• risoluzione delle immagini: fino a 2048x2048
• dimensione del campione: max. 100 mm x 100 mm (fino a 36 stub da 12mm)
• area di scansione : 50mmx50mm (opzionali 100mmx100mm)

Opzioni

• secondary electron detector (SED)
• microsonda EDS
• area di scansione estesa (100mmx100mm)

PORTA CAMPIONI STANDARD

Porta campioni per Phenom XL in grado di alloggiare fino a 36 stub da 12mm o un campione della dimensione massima di 100 x 100 x 40 mm. Abbinabile all’opzione di scansione 100 x 100 per poter osservare l’intera area disponibile. Motorizzato su asse X ed Y.

PORTA CAMPIONI EUCENTRICO

Porta campioni motorizzato su 6 assi (X, Y, Z, X’, T ed R), permette di alloggiare un campione della dimensione massima di 70 mm di diametro. Il sistema di tilting eucentrico (da -15 a +90°) e di rotazione compucentrica (360°) garantiscono il mantenimento della posizione e la messa a fuoco sul punto di interesse anche a seguito della movimentazione. Il software di gestione abbinato ha un’interfaccia semplice ed intuitiva che permette la visualizzazione 3D del proprio campione integrando un sistema di sicurezza per evitare collisioni interne alla camera.

INSERTO PER CAMPIONI IN RESINA

Inserto per porta campioni standard che permette di alloggiare in maniera semplice campioni inglobati in resina. Disponibile per resine da 25 mm (fino a 9 campioni), 32 mm (fino a 6 campioni) e 40 mm (fino a 4 campioni).

    PORTA CAMPIONI TENSILE

Porta campioni per prove meccaniche, applica una forza in trazione o compressione con cella di carico in grado di raggiungere 150N o 1000N. Abbinato al software Time Lapse Recorder permette di acquisire filmati, oltre che immagini, e monitorare quindi il comportamento del campione soggetto alla forza.

INSERTO PER FILTRI

Inserto per porta campioni standard che permette di alloggiare in maniera semplice filtri. Disponibile per filtri da 25mm (fino a 9 campioni) o da 47 mm (fino a 4 campioni)                                                                          


Il SEM compatto: uno strumento alla portata di tutti in grado di rilevare i difetti dei prodotti di stampa 3D

L'analisi SEM della superficie dei prodotti di stampa 3D consente di individuare i difetti sotto forma di interruzioni strutturali nell'area della superficie saldata. Tale fenomeno è da monitorare ed evitare perché le discontinuità strutturali dello strato superiore generano delle micro tacche. L'uso di un SEM compatto ha dimostrato di essere una tecnica valida per il controllo qualità del prodotto finito.

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