Phenom Pro G6

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La vera alternativa ai SEM tradizionali

I Microscopi Elettronici a Scansione della serie Phenom Pro sono SEM compatti in grado di garantire immagini di qualità straordinaria in tempi rapidissimi, con un'esperienza d'uso senza eguali. La sesta generazione rende ancora più performante questa serie di strumenti migliorandone le prestazioni ed aggiungendo nuove funzionalità. La nuova, rivoluzionaria interfaccia con immagine SEM a schermo intero (24”) fa diventare ancora più semplice ed immediato l’utilizzo del SEM da banco. Per i modelli dotati di EDX sono incluse funzioni come la Live EDS ed il nuovo algoritmo predittivo proprietario che rende ancora più semplice ed accurata la quantificazione degli elementi. Il Phenom ProX permette velocità di caricamento e scaricamento del campione uniche sul mercato, potendo ottenere un’immagine SEM in meno di 30 secondi, grazie ad un sistema appositamente brevettato che garantisce al tempo stessa massima resistenza alle vibrazioni ambientali.

2020 Phenom Prox Gen6 brochure 2020 Phenom Pro Gen6

Produttore	Thermo Fisher Scientific
Tecnica	Microscopia elettronica a scansione (SEM)
Materiale	Polveri, Solidi
Settore	Farmaceutico, Ceramico, Minerali e Metalli, Automotive/ Aerospaziale, Elettronica, Energia e Ambiente, Failure Analysis, Fibre, Filtri e Membrane, Materiali Innovativi e Compositi

Dettagli

Il Phenom Pro G6 monta come detector standard un Backscatter Detector (BSD) a quattro segmenti che fornisce immagini chiare ed ottimamente contrastate, e può lavorare sia in modalità composizionale che topografica. Può essere equipaggiato anche con un Secondary Electron Detector (SED) per ottenere maggiori dettagli superficiali, oltre che con una microsonda EDS completamente integrata (come da prassi Phenom), per microanalisi puntuali o mapping. La sorgente in Esaboruro di Cerio garantisce massima brillanza e durata, per immagini di alta qualità anche su campioni non conduttivi e non metallizzati, oltre ad un segnale ottimizzato per la microsonda EDS.

E’ disponibile il pacchetto Pro Suite che comprende tutta una serie di applicazioni in grado di estendere il tipo di caratterizzazioni effettuabili (Particlemetric, Porometric, Fibermetric, 3D Roughness Reconstruction etc.). Per saperne di più visitate la pagina dedicata.

Specifiche

monitor a colori di ultima generazione 24” per interfaccia utente e software Pro Suite
campo d'ingrandimento: 160-350.000x
risoluzione: <6nm (SED), <8nm (BSD)
CCD camera a colori integrata per la navigazione sul campione: 20-134X
campo di elementi rilevabili: B-Am
sorgente di lunga durata ed elevata luminosità (CeB6)
backscatter detector con modalità composizionale o topografica
immagini mixate live BSD & SED
campo di voltaggio: nel range tra 4,8 kV e 20,5 kV con selezione in continuo
caricamento del campione in meno di 20 secondi (5 secondi per la camera ottica)
formato delle immagini: jpg, tiff, png
risoluzione delle immagini: fino a 7680 x 4800
dimensione del campione: max. 25 mm in diametro (opzione fino a 32 mm)
altezza del campione: max. 35 mm (opzione fino a 100 mm)
stage motorizzato x, y

Opzioni

secondary electron detector (SED)
microsonda EDS

	PORTA CAMPIONI STANDARD Porta campioni per la massima risoluzione. Incluso in ogni fornitura di microscopi elettronici a scansione da banco Phenom. Ottimizzato per ottenere le migliori immagini su campioni (anche 3D) montati su Pin Stub standard. Ospita campioni fino a 25mm di diametro e 30mm di altezza.
	PORTA CAMPIONI “CHARGE REDUCTION” Questo porta campioni è progettato per eliminare preparazioni (tipo metallizzazione) extra su campioni non conduttivi riducendo la carica degli stessi. In questo modo si possono ottenere facilmente e rapidamente immagini su campioni quali: polimeri, organici, carta, ceramici, vetro etc. Rispetto al porta campioni standard è possibile ottenere immagini fino ad 8 ingrandimenti più elevati prima che l’effetto della carica del campione diventi visibile. E’ possibile ottenere immagini di materiali non conduttivi nel loro stato naturale ottenendo utili informazioni dal contrasto nella scala di grigi generato dal detector in back-scattering.
	PORTA CAMPIONI “MICRO TOOL” Con il porta campioni “micro tool” è possibile ottenere immagini di campioni dalla forma assialmente allungata (punte di trapani, aghi per iniezioni, tool di macinazione etc) senza bisogno di modificarli. Immagini dei coatings e degli angoli di taglio sono possibili ruotando e inclinando la regione di interesse senza smontare il campione.
	PORTA CAMPIONI “METALLURGICAL” La base di questo porta campioni è la stessa di quello standard, con la differenza di poter ospitare campioni montati su resina e inserti. Ospita campioni fino a 32mm di diametro e 30mm di altezza.
	PORTA CAMPIONI “METALLURGICAL CHARGE REDUCTION” Questo porta campioni elimina la necessità di preparazioni extra (metallizzazione) su campioni montati su resine non conduttive. In questo modo ottenere immagini è rapido e senza difficoltà. Rispetto al Porta campioni standard è possibile ottenere immagini fino ad 8 ingrandimenti più elevati prima che l’effetto della carica del campione diventi visibile.
	PORTA CAMPIONI MOTORIZZATO “TILT & ROTATION” Il porta campioni motorizzato “tilt & rotation” consente l’analisi di un campione da tutti i lati visibili e un immagine 3D unica. Rivelare tutte le caratteristiche nascoste del campione è quindi possibile, sia che esse siano fori, linee o strutture multi-strato. Il “tilt & rotation” è un cosidetto porta campioni 'intelligente' la cui scheda d'interfaccia riconosce automaticamente il porta campioni collegato e trasferisce direttamente i comandi allo stesso. La rotazione è continua a 360°, il campo di inclinazione va da -10° a +45°.
	PORTA CAMPIONI CON CONTROLLO DI TEMPERATURA Il porta campioni con controllo di temperatura è stato sviluppato per studiare campioni delicati e sensibili al vuoto quali gli alimenti, i biologici o coatings organici. Il porta campioni è in grado di controllare la temperatura del campione e di conseguenza l’umidità che lo circonda. Ciò minimizza i possibili dannisul campione dovuti al fascio di elettroni ed al vuoto. Il porta campioni con controllo di temperatura sfrutta un’effetto Peltier e consente di controllare la temperatura da -25°C a +50°C con un’accuratezza di ±1.5°C. Ospita campioni fino a 25mm di diametro e 5mm di altezza.
	PORTA CAMPIONI ELECTRICAL FEEDTHROUGH Consente di connettere delle sonde elettriche al camione
	Accessori vari per la preparazione del campione

Quanto è solida la tua analisi dell’acciaio?

La produzione di acciaio di prima qualità richiede strumenti di nuova generazione in grado di produrre dati di alta qualità. Oggi i produttori di acciaio si avvalgono in genere di microscopi ottici per che tuttavia non forniscono informazioni sulla composizione chimica. Il microscopio elettronico a scansione (SEM) da banco Thermo Scientific™ Phenom™ ParticleX Steel risolve questo problema, fornendo le informazioni rapide, accurate e complete necessarie ai produttori di acciaio per ottimizzare il loro processo di produzione.

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Nuovo Phenom Pharos ... il primo SEM compatto a sorgente FEG!

Il SEM compatto: uno strumento alla portata di tutti in grado di rilevare i difetti dei prodotti di stampa 3D

L'analisi SEM della superficie dei prodotti di stampa 3D consente di individuare i difetti sotto forma di interruzioni strutturali nell'area della superficie saldata. Tale fenomeno è da monitorare ed evitare perché le discontinuità strutturali dello strato superiore generano delle micro tacche. L'uso di un SEM compatto ha dimostrato di essere una tecnica valida per il controllo qualità del prodotto finito.

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Alfatest offre la possibilità di combinare i SEM Desktop Phenom della Thermo Scientific, completi di software per la valutazione della dimensione delle fibre e dei pori, ai porometri POROLUX™ e POROLIQ™ della Porometer per il calcolo della distribuzione della dimensione dei pori mediante tecnica di porometria capillare.
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Presentazione del ns. specialista Fabio De Simone sull'Imaging con microscopia elettronica a scansione SEM delle polveri metalliche per uso Additive Manufacturing (evento del 30/10/2018 a Sesto San Giovanni)