SEM da banco Phenom Pharos G2

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In Breve

L’evoluzione dei FEG da banco

Il Phenom Pharos ha rappresentato una pietra miliare nella microscopia elettronica, essendo il primo SEM compatto a montare una sorgente FEG. Come ogni SEM da banco Phenom il Pharos si caratterizza per l’estrema semplicità d’uso, dall’installazione all’acquisizione dell’immagine, e per la velocità senza uguali, ma grazie alla sorgente ad emissione di campo garantisce risoluzioni molto elevate, superiori anche a strumenti entry level da pavimento. La seconda generazione del Pharos migliora ulteriormente questi strumenti rendendoli ancora più versatili e performanti ed integrando la nuova interfaccia d’uso, ancora più semplice e funzionale, già sperimentata sui modelli della serie P ed XL.

Descrizione tecnica

Dettagli

Il SEM da banco Phenom Pharos è il primo SEM compatto equipaggiato con sorgente ad emissione di campo che garantisce risoluzioni molto elevate oltre ad una brillanza tale da assicurare immagini di alta qualità ed ottimamente contrastate, risultando ottimale anche per l’acquisizione di spettri EDX.

Il Phenom Pharos mantiene il classico approccio dei SEM da banco Phenom, e assicura la possibilità di lavorare in maniera semplice, intuitiva e veloce. L’installazione del Phenom Pharos è estremamente semplice, basta posizionarlo su un tavolo, collegare i cavi ed accenderlo. Non servono né strutture né utenze particolari. Una volta introdotto il campione viene acquisita l’immagine ottica a colori per la navigazione, mentre il passaggio in modalità SEM impiega meno di 25 secondi. Grazie al nuovo design della colonna è quindi possibile ottenere immagini ad alta risoluzione (< 2 nm) ed effettuare microanalisi (per strumenti dotati di EDX) utilizzando la stessa distanza di lavoro.

La qualità dei detector permette di acquisire le immagini in tempi estremamente rapidi (<7 sec).

I nuovi Phenom Pharos G2 oltre a migliorare le prestazioni aumentano il range di voltaggio disponibile, potendo lavorare da 1 kV (per campioni sensibili al fascio) fino a 20kV.

E’ disponibile un’ampia gamma di accessori per facilitare il caricamento nel Pharos di ogni tipologia di campioni, dai materiali umidi a quelli non conduttivi o di forme particolari. E’ inoltre disponibile un porta campioni che permette tilting e rotazione (vedere sezione Accessori). Anche per il microscopio elettronico Phenom Pharos è disponibile il pacchetto Pro Suite che comprende tutta una serie di applicazioni in grado di estendere il tipo di caratterizzazioni effettuabili:

  • Automated Image Mapping, per mappatura di immagini
  • Remote UI, per il controllo remoto dello strumento
  • Time Lapse Recorder, per l’acquisizione di filmati
  • 3D Roughness Reconstruction, per misure di rugosità superficiale
  • Fibermetric, per la caratterizzazione di fibre
  • Porometric, per dimensione e forma dei pori
  • Particlemetric, per dimensione, numero e forma di particelle (è disponibile l’accessorio Nebula per la dispersione delle polveri)
Specifiche tecniche del SEM da banco Phenom Pharos G2:
  • Sorgente di elettroni: FEG Schottky
  • Range di ingrandimento: fino a 2.000.000x
  • Risoluzione SEM: <2nm SED, <3nm BSD (20kV), <10 nm SED (3 kV)
  • Campo di voltaggio: Defaut (5, 10 e 15 kV) – Modalità avanzata (nel range tra 1 kV e 20 kV)
  • Livelli di vuoto: Alto vuoto (1 Pa), Medio (10 Pa), Basso vuoto (60 Pa)
  • Dimensione del campione: fino a 32mm (Ø), fino a 35 mm h (100 mm opzionali)
  • Stage motorizzato X-Y (escursione massima 18mm x 18mm)
  • Detectors: BSD (standard), SED (opzionale), EDX (opzionale)
  • Camera a colori per la navigazione sul campione: zoom 27 – 160x
  • Ottenimento dell’immagine dal caricamento del campione: <25 secondi
  • Formato delle immagini: jpg, tiff, bitmap
  • Risoluzione delle immagini: fino a 7680×4800 pixels
  • UPS integrato per la gestione automatica dello spegnimento del microscopio
Il porta campioni STEM

Il porta campioni STEM utilizza la luminosità della sorgente FEG per lavorare in trasmissione su campioni molto sottili, montati sulla classica griglia TEM da 3mm, con la possibilità di ottenere immagini ad alta risoluzione sull’intero intervallo di tensione di accelerazione, anche a partire da 1 kV.

A seconda della modalità di imaging, diversi tipi di segnali possono essere rilevati: campo chiaro standard (BF), campo scuro (DF) e campo scuro anulare ad alto angolo (HAADF). Sono inoltre disponibili della modalità personalizzate, essendo il rivelatore composto da 11 segmenti che possono essere selezionati individualmente dall’utente.

L’elettronica è inserita all’interno dello stesso porta campioni, che viene riconosciuto automaticamente dallo strumento una volta inserito, senza bisogno di collegamento via cavo. L’interfaccia smart attiva automaticamente la modalità STEM ed è possibile ottenere immagini in meno di un minuto.

Il porta campioni STEM per il SEM da banco Phenom Pharos espande le capacità di imaging, rendendo lo strumento ancora più versatile ed aprendo a nuove applicazioni come nanoparticelle e materiali biologici.

Caratteristiche:
  • Il primo porta campioni STEM al mondo combinato con SEM da banco con sorgente FEG
  • Offre un contrasto elevato in condizioni di bassa tensione per aumentare la visibilità di strutture e morfologia
  • Lavora indifferentemente a bassi ed elevati ingrandimenti potendo lavorare su una vasta gamma di materiali
  • Include le modalità di imaging in campo chiaro (BF, fig.1), campo scuro (DF, fig 2) e campo scuro anulare ad alto angolo (HAADF, fig. 3)

Fig 1: imaging in campo chiaro (BF)

Fig.2 Imaging in campo scuro (DF)

Fig3. Imaging in campo scuro anulare ad alto angolo (HAADF)

Specifiche:
  • Compatibilità porta campioni: SEM da banco Phenom Pharos G2
  • Caricamento del campione: griglie per STEM standard da Ø 3 mm
  • Tempo di imaging: 40 sec.
  • Elettronica: integrata nel Sample Holder
  • Modalità di imaging: in campo chiaro (BF), campo scuro (DF) e campo scuro anulare ad alto angolo (HAADF)
  • Modalità di vuoto: 0.1, 10 o 60 Pa (alto, medio e basso vuoto)
  • Risoluzione: < 1nm
  • EDS: possibile per Pharos dotati di detector EDS
  • Software: integrato nella UI Phenom
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Morphologi 4-ID

Malvern Panalytical

Morphologi 4

Malvern Panalytical

Mastersizer 3000

Malvern Panalytical

LUXOR Platinum Coater

Luxor Tech
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PORTA CAMPIONI STANDARD

Porta campioni per la massima risoluzione. Incluso in ogni fornitura di microscopi elettronici a scansione da banco Phenom. Ottimizzato per ottenere le migliori immagini su campioni (anche 3D) montati su Pin Stub standard. Ospita campioni fino a 25mm di diametro e 30mm di altezza.

PORTA CAMPIONI “MICRO TOOL”

Con il porta campioni “micro tool” è possibile ottenere immagini di campioni dalla forma assialmente allungata (punte di trapani, aghi per iniezioni, tool di macinazione etc) senza bisogno di modificarli. Immagini dei coatings e degli angoli di taglio sono possibili ruotando e inclinando la regione di interesse senza smontare il campione.

     

PORTA CAMPIONI “METALLURGICAL”

La base di questo porta campioni è la stessa di quello standard, con la differenza di poter ospitare campioni montati su resina e inserti. Ospita campioni fino a 32mm di diametro e 30mm di altezza.

PORTA CAMPIONI MOTORIZZATO “TILT & ROTATION”

Il porta campioni motorizzato “tilt & rotation” consente l’analisi di un campione da tutti i lati visibili e un immagine 3D unica. Rivelare tutte le caratteristiche nascoste del campione è quindi possibile, sia che esse siano fori, linee o strutture multi-strato. Il “tilt & rotation” è un cosidetto porta campioni ‘intelligente’ la cui scheda d’interfaccia riconosce automaticamente il porta campioni collegato e trasferisce direttamente i comandi allo stesso. La rotazione è continua a 360°, il campo di inclinazione va da -10° a +45°.

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PORTA CAMPIONI CON CONTROLLO DI TEMPERATURA

Il porta campioni con controllo di temperatura è stato sviluppato per studiare campioni delicati e sensibili al vuoto quali gli alimenti, i biologici o coatings organici.
Il porta campioni è in grado di controllare la temperatura del campione e di conseguenza l’umidità che lo circonda. Ciò minimizza i possibili dannisul campione dovuti al fascio di elettroni ed al vuoto.
Il porta campioni con controllo di temperatura sfrutta un’effetto Peltier e consente di controllare la temperatura da -25°C a +50°C con un’accuratezza di ±1.5°C.

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PORTA CAMPIONI ELECTRICAL FEEDTHROUGH

Consente di connettere delle sonde elettriche al campione.

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PORTA CAMPIONI STEM

Il porta campioni STEM utilizza la luminosità della sorgente FEG per lavorare in trasmissione su campioni molto sottili, montati sulla classica griglia TEM da 3mm, con la possibilità di ottenere immagini ad alta risoluzione sull’intero intervallo di tensione di accelerazione, anche a partire da 1 kV.

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