Phenom ParticleX
Il Phenom ParticleX è il SEM da banco ideale per eseguire analisi automatizzata alla ricerca di polveri e particelle delle quali è possibile determinare dimensione, forma e composizione tramite analisi EDX. Nella versione per Additive Manufacturing (AM) permette di caratterizzare le polveri metalliche sia per il controllo qualità della materia prima, anche alla ricerca di eventuali contaminanti, sia per poter valutare il grado di riutilizzo della polvere. Nella versione per il Technical Cleaniness, il Phenom ParticleX rappresenta uno strumento estremamente efficace per eseguire misure di pulizia tecnica in conformità alle normative vigenti (ISO16232 e VDA 19). Nella versione per Acciai permette la ricerca automatizzata di inclusioni non metalliche e successiva classificazione delle stesse su base dimensionale e composizionale.
Descrizione
Il Phenom Particle X è equipaggiato con una camera da 100x100mm nella quale è possibile caricare fino a 30 stub contemporaneamente o 4 filtri da 47mm, e rappresenta uno strumento in grado di garantire la massima produttività anche grazie al meccanismo di caricamento brevettato che permette di partire con le analisi in soli 40 secondi.
Il Phenom ParticleX AM/TC è un SEM compatto multifunzionale che garantisce risoluzione su scala nanometrica e permette di eseguire un’ampia gamma di analisi potendo determinare forma, dimensione e composizione di polveri e particelle in maniera completamente automatica ed in accordo a norme di settore, garantendo un controllo qualità veloce e accurato come richiesto dagli odierni standard produttivi.
Il SEM è equipaggiato con detector BSD ed EDX, ma è disponibile anche il SED come opzione. L’ampia camera associata ai tempi di caricamento minimi (40 secondi) permette di ottenere la massima produttività. Come tutti i SEM da banco Phenom utilizza la sorgente in CeB6 ad elevata brillanza che garantisce massima qualità d’immagine anche in basso vuoto (per campioni non conduttivi e non metallizzati), oltre alla possibilità di ottenere spettri EDS accurati anche in tempi molto brevi (indispensabile per analisi automatizzate che prevedano l’acquisizione di migliaia di particelle). La durata della sorgente, estremamente elevata, unitamente al fatto di poterne programmare la sostituzione permette di lavorare senza l’assillo di avere un fermo macchina improvviso.
Come da prassi Phenom la nuova interfaccia, ancora più semplice ed intuitiva, permette l’utilizzo del SEM anche ad operatori non esperti.
Specifiche del Phenom ParticleX:
- Monitor a colori di ultima generazione 24” per interfaccia utente e software Pro Suite
- Campo d’ingrandimento: 160-200.000x
- Risoluzione: <10nm
- CCD camera a colori integrata per la navigazione sul campione: 3-16X
- Campo di elementi rilevabili: B-Am
- Sorgente di lunga durata ed elevata luminosità (CeB6)
- Backscatter detector con modalità composizionale o topografica
- Campo di voltaggio: nel range tra 4,8 kV e 20,5 kV con selezione in continuo
- Caricamento del campione in meno di 40 secondi (5 secondi per la camera ottica)
- Formato delle immagini: jpg, tiff, png
- Risoluzione delle immagini: fino a 7680 x 4800
- Dimensione del campione ed area scansionabile: max. 100 mm x 100 mm (fino a 36 stub da 12mm)
- Stage motorizzato x, y
- Unica Working Distance (WD) per acquisizione immagini ad alta risoluzione ed analisi EDS
Opzioni:
- Secondary electron detector (SED)
Specifiche del software AM:
- Possibilità di analizzare parametri dimensionali e morfologici come: diametro minimo e massimo, perimetro, aspet ratio, rugosità, diametro di feret etc.
- Istogrammi di Particle Size Distribution sia in base numero che in volume
- Possibilità di esprimere i valori in termini di d10, d50 e d90
- Disponibilità di ricette che permettono di differenziare tra particelle sferiche, con satelliti o deformate
- Spettro EDX di ciascuna delle particelle analizzate
- Possibilità di rivisitare ogni singola particella
Specifiche del software TC:
- Template per analisi precaricati
- Reportistica in accordo alla ISO 16232 ed alla VDA-19
- Possibilità di rivisitare ogni singola particella
Specifiche del software Steel:
- Template per analisi precaricati
- Report con grafici ternari configurabili a piacimento, oltre all’elenco di tutte le inclusioni rilevate con relativi caratteristiche.
- Possibilità di utilizzo anche su altri materiali metallici
- Possibilità di rivisitare ogni singola inclusione
Video
Richiedi una demo
Risorse
Risorse - Articoli
Visualizza tutto
Chiedi informazioni all'esperto
Testimonianze
Possiamo solo fare un plauso sia al funzionario di vendita sia ai tecnici. Speriamo lo stesso avvenga nel prossimo futuro
E’ sempre un piacere collaborare con voi, mai avuto problemi e per noi siete classificati come fornitori di alto livello…
Da molti anni sono vostra cliente e sono molto molto soddisfatta sia per la cordialità la competenza che la tempistica di intervento. Il livello di professionalità dei tecnici e dell’assistenza alla vendita è altissima. Sicuramente un’azienda con una marcia in più!
Il tecnico è stato molto disponibile a fornire spiegazioni di fronte a tutte le nostre domande.
Eccezionale collaborazione, professionalità e disponibilità da parte di tutto il team Alfatest. Grazie ancora.
Massima competenza e professionalità. Ottima assistenza.
La collaborazione con i vostri tecnici ha carattere famigliare. Penso sia una caratteristica importante la familiarità che avete stabilito con i clienti. Complimenti
