Il Phenom ParticleX AM/TC è un SEM compatto multifunzionale che garantisce risoluzione su scala nanometrica e permette di eseguire un’ampia gamma di analisi potendo determinare forma, dimensione e composizione di polveri e particelle in maniera completamente automatica ed in accordo a norme di settore, garantendo un controllo qualità veloce e accurato come richiesto dagli odierni standard produttivi.
Il SEM è equipaggiato con detector BSD ed EDX, ma è disponibile anche il SED come opzione. L’ampia camera associata ai tempi di caricamento minimi (40 secondi) permette di ottenere la massima produttività. Come tutti i SEM da banco Phenom utilizza la sorgente in CeB6 ad elevata brillanza che garantisce massima qualità d’immagine anche in basso vuoto (per campioni non conduttivi e non metallizzati), oltre alla possibilità di ottenere spettri EDS accurati anche in tempi molto brevi (indispensabile per analisi automatizzate che prevedano l’acquisizione di migliaia di particelle). La durata della sorgente, estremamente elevata, unitamente al fatto di poterne programmare la sostituzione permette di lavorare senza l’assillo di avere un fermo macchina improvviso.
Come da prassi Phenom la nuova interfaccia, ancora più semplice ed intuitiva, permette l’utilizzo del SEM anche ad operatori non esperti.

Specifiche del Phenom ParticleX:

• Monitor a colori di ultima generazione 24” per interfaccia utente e software Pro Suite
• Campo d’ingrandimento: 160-200.000x
• Risoluzione: <10nm
• CCD camera a colori integrata per la navigazione sul campione: 3-16X
• Campo di elementi rilevabili: B-Am
• Sorgente di lunga durata ed elevata luminosità (CeB6)
• Backscatter detector con modalità composizionale o topografica
• Campo di voltaggio: nel range tra 4,8 kV e 20,5 kV con selezione in continuo
• Caricamento del campione in meno di 40 secondi (5 secondi per la camera ottica)
• Formato delle immagini: jpg, tiff, png
• Risoluzione delle immagini: fino a 7680 x 4800
• Dimensione del campione ed area scansionabile: max. 100 mm x 100 mm (fino a 36 stub da 12mm)
• Stage motorizzato x, y
• Unica Working Distance (WD) per acquisizione immagini ad alta risoluzione ed analisi EDS

Opzioni:

• Secondary electron detector (SED)

Specifiche del software AM:

• Possibilità di analizzare parametri dimensionali e morfologici come: diametro minimo e massimo, perimetro, aspet ratio, rugosità, diametro di feret etc.
• Istogrammi di Particle Size Distribution sia in base numero che in volume
• Possibilità di esprimere i valori in termini di d10, d50 e d90
• Disponibilità di ricette che permettono di differenziare tra particelle sferiche, con satelliti o deformate
• Spettro EDX di ciascuna delle particelle analizzate
• Possibilità di rivisitare ogni singola particella

Specifiche del software TC:

• Template per analisi precaricati
• Reportistica in accordo alla ISO 16232 ed alla VDA-19
• Possibilità di rivisitare ogni singola particella

Specifiche del software Steel:

• Template per analisi precaricati
• Report con grafici ternari configurabili a piacimento, oltre all’elenco di tutte le inclusioni rilevate con relativi caratteristiche.
• Possibilità di utilizzo anche su altri materiali metallici
• Possibilità di rivisitare ogni singola inclusione