Microscopio FT-IR HYPERION II
Sistemi accoppiati (hyphenated) e accessori esterni – Microscopio FT-IR per imaging IR laser e microscopia FT-IR con detector FPA o pixel singolo. Per analisi spazialmente risolte su materiali, farmaci, polimeri, semiconduttori.
Testimonianze
Possiamo solo fare un plauso sia al funzionario di vendita sia ai tecnici. Speriamo lo stesso avvenga nel prossimo futuro
E’ sempre un piacere collaborare con voi, mai avuto problemi e per noi siete classificati come fornitori di alto livello…
Da molti anni sono vostra cliente e sono molto molto soddisfatta sia per la cordialità la competenza che la tempistica di intervento. Il livello di professionalità dei tecnici e dell’assistenza alla vendita è altissima. Sicuramente un’azienda con una marcia in più!
Il tecnico è stato molto disponibile a fornire spiegazioni di fronte a tutte le nostre domande.
Eccezionale collaborazione, professionalità e disponibilità da parte di tutto il team Alfatest. Grazie ancora.
Massima competenza e professionalità. Ottima assistenza.
La collaborazione con i vostri tecnici ha carattere famigliare. Penso sia una caratteristica importante la familiarità che avete stabilito con i clienti. Complimenti
