Jupiter Discovery AFM
Il microscopio a forza atomica Jupiter Discovery offre una combinazione unica di prestazioni di prim’ordine e un’eccezionale facilità d’uso. Sia in ambito accademico che industriale, i ricercatori si aspettano risultati di alta qualità con meno formazione e impegno. Allo stesso tempo, le misure AFM di oggi richiedono prestazioni più elevate, in quanto gli utenti si sforzano di risolvere dettagli più fini e di ottenere maggiore precisione, ripetibilità e produttività. Jupiter Discovery è l’unico AFM che soddisfa queste esigenze, offrendo sia le altissime prestazioni che l’eccezionale usabilità di cui i ricercatori hanno bisogno.
Descrizione
Il design di nuova generazione offre le prestazioni più elevate di qualsiasi altro AFM per campioni di grandi campioni. Jupiter Discovery raggiunge una risoluzione elevatissima e una velocità di scansione 5-20 volte superiore a quella degli altri AFM, stabilendo un nuovo punto di riferimento per le prestazioni degli AFM per grandi campioni.
Il flusso di lavoro ottimizzato offre all’utente un’esperienza più semplice e produttiva. Le sonde premontate, l’esclusiva telecamera a visione laterale e l’esclusiva modalità di imaging topografico FFM con Autopilot consentono ai nuovi utenti di passare dal caricamento del campione ai risultati in pochi minuti.
L’impareggiabile configurabilità offre la versatilità necessaria per soddisfare le esigenze di qualsiasi gruppo di ricerca. Una vasta scelta di accessori e funzionalità consente di effettuare ricerche multidisciplinari, mentre le opzioni di configurazione aiutano a coprire un’ampia gamma di budget.
Modalità operative incluse
- Basic: contact mode, fast force mapping topography with autopilot, force curves, frequency modulation, lateral force mode, nanolithography and nanomanipulation, phase imaging, tapping mode (AC mode)
- Nanomechanical: dual AC (bimodal), force mapping (force volume), force modulation, loss tangent imaging
- Nanoelectrical & functional: electric force microscopy (EFM), Kelvin probe force microscopy (KPFM), magnetic force microscopy (MFM), dual AC resonance tracking (DART) piezoresponse force microscopy (PFM), switching spectroscopy PFM, vector PFM.
Modalità operative opzionali
AM-FM viscoelastic mapping mode, contact resonance viscoelastic mapping, fast force modulus mapping, torsional force microscopy, conductive AFM (CAFM) with ORCA, current mapping with fast force mapping, nanoscale time-dependent dielectric breakdown (nanoTDDB), scanning capacitance microscopy (SCM), Ergo KPFM (single pass with heterodyne, sideband, and amplitude modulation).
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Testimonianze
Possiamo solo fare un plauso sia al funzionario di vendita sia ai tecnici. Speriamo lo stesso avvenga nel prossimo futuro
E’ sempre un piacere collaborare con voi, mai avuto problemi e per noi siete classificati come fornitori di alto livello…
Da molti anni sono vostra cliente e sono molto molto soddisfatta sia per la cordialità la competenza che la tempistica di intervento. Il livello di professionalità dei tecnici e dell’assistenza alla vendita è altissima. Sicuramente un’azienda con una marcia in più!
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