AFM VERO
Il microscopio a forza atomica Vero è un AFM di nuova generazione che misura con precisione e accuratezza lo spostamento reale della punta utilizzando la tecnica di interferometria differenziale in quadratura di fase (QPDI). Costruito sulla base dell’impareggiabile stabilità e delle prestazioni della famiglia Cypher AFM, questa esclusiva innovazione brevettata QPDI consente a Vero di fornire risultati AFM con maggiore accuratezza, precisione e ripetibilità.
Descrizione
- Misura lo spostamento reale della punta: grazie alla tecnica QPDI è possibile misurare direttamente lo spostamento della punta invece di monitorare l’angolazione del cantilever e ciò consente una migliore quantificazione di molte misure AFM.
- Maggiore sensibilità: la tecnica QPDI permette di ridurre il rumore di rilevamento del cantilever di un ordine di grandezza (fino a 10 volte o più a seconda del tipo di cantilever).
- Nessuna interferenza tra forze verticali e in-plane: la tecnica QPDI è l’unica in grado di rilevare il puro spostamento verticale della punta, evitando i fenomeni di cross-talk tra i segnali di deflessione verticale e laterale dei classici rilevatori ottici OBD (optical beam deflection).
- Massima accuratezza nella calibrazione: il rilevamento interferometrico evita le assunzioni e le incertezze associate alla calibrazione dei sistemi OBD.
- Disponibile nelle configurazioni S e ES
L’ossido di afnio (IV) HfO2 è un materiale con una risposta piezoelettrica molto bassa e molto difficile da misurare in modalità PFM (piezo-response force microscopy). Come mostrato nella figura di sinistra, la sensibilità di Vero consente una chiara risoluzione dei domini piezoelettrici, mentre su un AFM tradizionale (figura a destra) la risposta è completamente oscurata a causa del troppo elevato rumore di fondo.
Il BiFeO3 (BFO) è un materiale multiferroico con una struttura di dominio complessa e che presenta una risposta piezoelettrica sia fuori piano che in piano. La caratterizzazione di questo sistema rappresenta una vera e propria sfida per ogni AFM convenzionale a causa del cross-talk tra i segnali di deflessione del cantilever verticali e laterali rilevati dai sistemi OBD (optical beam deflection). Utilizzando il rilevamento QPDI di Vero (figura a sinistra), il materiale presenta una polarizzazione fuori piano altamente uniforme. Tuttavia, la stessa area analizzata con un AFM basato su OBD mostra una polarizzazione molto variabile, nonostante questa sia stata calcolata dal solo segnale di deflessione verticale.
Per maggiori informazioni scarica le app note qui di seguito :
The Vero Interferometric AFM – Advances in Accuracy for Piezoresponse Force Microscopy
Quadrature Phase Differential Interferometry (QPDI) technology in the Asylum Research Vero AFM
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Testimonianze
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