Phenom Pharos G2
Caratterizzazione di materiali sensibili tramite SEM-FEG in GloveBox
Caratterizzazione di materiali sensibili tramite SEM-FEG in GloveBox
Soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e l’analisi dei materiali
Microscopia elettronica – Spettroscopia EDX
Supporto per preparazione campioni (38 stub) – STND-38STB
Pinzette in acciao inox – PNZSS
Pinzette in acciao inox per stub da 12 mm – PNZSS-12MM
Pinzette in acciao inox per stub da 25 mm – PNZSS-25MM
Air blower per pulizia campione – ARBL
Standard metrico certificato con griglia (100nm – 2.5mm) montato su stub 12mm – MSTD-100NM-2.5MM
Grafite colloidale, bottiglia da 25g – GRPH-25G
Standard Gold on Carbon per test risoluzione (2-30nm) montato su stub 12mm – RSTD-2-30NM
Standard Gold on Carbon per test risoluzione (3-50nm) montato su stub 12mm – RSTD-3-50NM
Target in oro (99.99%) per sputter coater (Ø57 x 0.1mm) – TGTAU-O.1MM
Nasto di rame condiuttivo (6mm x 30m) – NSTCU-6MM-30M
Biadesivo in carbonio per stub da 12mm, confezione da 100 – CST12-100
Fibra in carbonio per carbon coater ( Ø0.8mm, 0.4g/1m) – CFBR-0.4-1M
Biadesivo in carbonio per stub da 25mm, confezione da 50 – CST25-50
Stub per sezioni da 0 a 12mm – STBSZN-0-12MM
Pin stub in alluminio da 25 mm, confezione da 50 – STB25-50
Pin stub in alluminio da 12mm, confezione da 50 – STB12-50
Pin stub 11x12mm con indicatore di angoli (0, 30, 45, 70 e 90°) – STBTLT-12MM
Pin stub Ø15mm per tilting campione – STBTLT-15MM
Inserto per sezioni fino a 22mm – INSSZN-22M
Inserto per campioni massivi fino a Ø15x15mm – INSMSS-15MM
Pin stub in alluminio da 25 mm, confezione da 10 – STB25-10
Pin stub in alluminio da 25 mm, confezione da 100 – STB25-100
Scatola in plexiglass per conservazione campioni (153 stub) – BOX-153STB
