Phenom ParticleX
Soluzioni avanzate per la microscopia elettronica e l’analisi dei materiali
Caratterizzazione multiscala di leghe per additive manufacturing – Identificazione di inclusioni e precipitati di superleghe mediante SEM e TEM
Caratterizzazione multiscala di leghe per additive manufacturing – Identificazione di inclusioni e precipitati di superleghe mediante SEM e TEM
Analisi SEM automatizzata di particelle intermetalliche in leghe di alluminio
Microscopia elettronica – Spettroscopia EDX
Analisi di inclusione di acciaio trattato con un complesso di titanio e magnesio – prova di fusione di lega e affinazione in officina valutata con microscopia elettronica a scansione (sem) automatizzata
Analisi di inclusione di acciaio trattato con un complesso di titanio e magnesio – Prova di fusione di lega e affinazione in officina valutata con microscopia elettronica a scansione (SEM) automatizzata
Microscopia elettronica a scansione (SEM)
Quanto è solida la tua analisi dell’acciaio?
Microscopia ottica vs. Microscopia elettronica: quale tecnica scegliere?
L’analisi dell’amianto con il microscopio elettronico a scansione (SEM)
L’applicazione degli ultra-Nano Clusters Silver (SUNC) con effetto antimicrobiotico e antibiofilm contro il batterio Helicobacter pylori
Webinar l’uso del SEM accoppiato all’EDS per analisi automatizzata di polveri e filtri
