High Performance AFM – Asylum Research.
Il leader tecnologico nella microscopia a forza atomica
Dettagli
Alfatest, in collaborazione con Oxford Instruments, propone un workshop dedicato alla microscopia a forza atomica ad alte prestazioni. La tecnologia AFM offre caratteristiche uniche per rispondere alla crescente richiesta di caratterizzazione di strutture e proprietà chimico-fisiche su scala nanometrica e sub-nanometrica, in una sempre più ampia gamma di campi applicativi.
L’evento sarà l’occasione di ascoltare utilizzatori italiani di AFM insieme agli specialisti applicativi di Alfatest e Oxford Instruments, e di assistere ad una dimostrazione del Cypher VRS, il modello che offre la più alta risoluzione tra gli AFM fast-scanning.
Dove
Alfatest – Via Firenze 30/A Cernusco Sul Naviglio (MI)
Programma
9.30 Registrazione partecipanti
10.00 Introduzione alla giornata e presentazione Alfatest strumentazione scientifica – Fabio De Simone, Alfatest
10.30 Presentazione Oxford Instruments Asylum Research – David Westmoreland, Oxford Instruments
10.45 Microscopia a forza atomica: cenni teorici e principio di funzionamento – Stefano Del Buffa, Alfatest
11.00 Coffee break
11.30 Thickness-dependent Relative Dielectric Constant of Organic Ultrathin Films – Dr. Cristiano Albonetti, CNR-IMSN
12.00 Role of cholesterol in modulating fluidity and bending rigidity of raft-like model cell membranes – Dr.ssa Loredana Casalis, NanoInnovation Laboratory Elettra Sincrotrone Trieste
12.30 Recent advances in Atomic Force Microscopy– Gabriele Selvaggio, Oxford Instruments
13.00 Pranzo
14.00 Sessione partica su Cypher ES/VRS
16.00 Tavola rotonda
16.30 Chiusura lavori
