Una domanda?
Bisogno di aiuto?

Eventi

Immagini SEM ad alta risoluzione e Microanalisi

Data inizio: 13 Maggio 2015 - Data fine: 13 Maggio 2015
Chieti

Alfatest e PhenomWorld in collaborazione con l'Università degli Studi "G. d'Annunzio" hanno il piacere di invitarvi all'evento:

Mercoledì 13 Maggio 2015

Università degli Studi "G. d'Annunzio" - CHIETI
Campus 'Madonna delle Piane' - Via dei Vestini 31 - Chieti Scalo (CH) - Sala Multimediale del Rettorato

PROGRAMMA:

09:30 Registrazione dei partecipanti

10:00 Presentazione dei microscopi elettronici a scansione (SEM) da banco della Phenom-World, con particolare attenzione al modello Phenom ProX, sistema completo per imaging e analisi X-ray con opzione 'Elemental image mapping' per la mappatura completa degli elementi all'interno del campione. Presentazione delle opzioni software Automated Image Mapping, 3D-Roughness Reconstruction, Fibermetric, Particlemetric e Porometric, che permettono di ampliare il ventaglio di misurazioni effettuabili sui propri campioni.

10:30 Coffee break

11:00 Sessione pratica di analisi dei vs. propri campioni su Phenom ProX!

14:00 Chiusura dei lavori

Chi è la Phenom-World? Azienda olandese, spin-off della FEI e leader globale nella produzione di microscopi elettronici a scansione da banco (Benchtop SEM), è distribuita con esclusiva in Italia da Alfatest. La filosofia della Phenom-World è fornire ai propri clienti immagini eccellenti in tempi rapidissimi con una semplicità d'uso senza uguali. In tal senso tutti gli accessori – sia hardware, EDX compreso, che software - degli apparecchi SEM da banco Phenom sono stati sviluppati internamente per essere completamente integrati e gestiti dall'unico software Phenom Pro-Suite. Clicca qui per maggiori informazioni

La partecipazione al seminario è GRATUITA ma è necessario la REGISTRAZIONE in quanto il numero di posti disponibili è limitato