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Eventi

Immagini SEM ad alta risoluzione e Microanalisi

Data inizio: 27 Maggio 2015 - Data fine: 27 Maggio 2015
Portici (NA)

Alfatest e PhenomWorld in collaborazione con il CNR IPCB hanno il piacere di invitarvi all'evento:

Mercoledì 27 Maggio 2015

CNR IPCB - PORTICI (NA)
c/o‎ Centro Ricerche Enea di Portici - Piazzale E. Fermi, 1 - Loc. Granatello - Sala Conferenze

PROGRAMMA:

09:30 Registrazione dei partecipanti

10:00 Presentazione dei microscopi elettronici a scansione (SEM) da banco della Phenom-World, con particolare attenzione al modello Phenom ProX, ed al nuovissimo Phenom XL, sistemi completi per imaging e analisi EDS con opzione 'Elemental image mapping' per la mappatura completa degli elementi all'interno del campione. Presentazione delle opzioni software Automated Image Mapping, 3D-Roughness Reconstruction, Fibermetric, Particlemetric e Porometric, che permettono di ampliare il ventaglio di misurazioni effettuabili sui propri campioni.

10:45 Coffee break

11:00 Sessione pratica di analisi dei vs. propri campioni su Phenom ProX!

14:00 Chiusura dei lavori

Chi è la Phenom-World? Azienda olandese, spin-off della FEI e leader globale nella produzione di microscopi elettronici a scansione da banco (Benchtop SEM), è distribuita con esclusiva in Italia da Alfatest. La filosofia della Phenom-World è fornire ai propri clienti immagini eccellenti in tempi rapidissimi con una semplicità d'uso senza uguali. In tal senso tutti gli accessori – sia hardware, EDX compreso, che software - degli apparecchi SEM da banco Phenom sono stati sviluppati internamente per essere completamente integrati e gestiti dall'unico software Phenom Pro-Suite. Clicca qui per maggiori informazioni

La partecipazione al seminario è GRATUITA ma è necessario la REGISTRAZIONE in quanto il numero di posti disponibili è limitato