Corso Microscopia elettronica in scansione per metallurgisti

Alfatest sarà presente al corso sulla Microscopia Elettronica a Scansione (SEM), giunto alla sua V edizione. Il corso è organizzato dall’Associazione Italiana di Metallurgia (AIM) in collaborazione con il CNR-ICMATE. L’evento si terrà a Lecco, presso il Polo Territoriale del Politecnico di Milano, il 26 e 27 maggio 2026.

Il corso mira a fornire le basi teoriche e pratiche necessarie per pianificare indagini SEM corrette e interpretare accuratamente i risultati, evitando errori comuni. È rivolto a tecnici, ingegneri, ricercatori, dottorandi e professionisti del settore qualità o R&D, in particolare a chi si occupa di materiali metallici

I nostri product specialist vi aspettano al nostro stand per illustarvi le caratteristiche degli strumenti dedicati alla microscopia elettronica a scansione, in particolare per mostrarvi le funzionalità della linea Phenom della Thermo Fisher Scientific e dei suoi accessori!

Non mancate!

Polo Territoriale di Lecco del Politecnico di Milano (aula B.05 – edificio 9) – via Previati 1/c, Milano

Per saperne di più sul programma delle giornate, è possibile visitare il sito web dell’organizzazione