Failure Analysis

Descrizione

La failure analysis dei componenti metallici comprende una serie di indagini svolte per capire le cause legate alla rottura di un materiale, al fine di apportare le opportune modifiche al processo di progettazione e produzione per evitare che il problema possa ripresentarsi.

Questo tipo di caratterizzazione include tra le altre l’analisi delle macrofratture, quella metallografica, l’analisi della microstruttura, della composizione chimica e della microdurezza.

Il Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) è lo strumento ideale per verificare la presenza di micro-difetti su campioni provenienti dai più svariati settori industriali (meccanica di precisione, automotive, aerospaziale, metallurgico, chimico, microelettronica etc.).

Dall’immagine SEM possiamo infatti identificare il tipo di frattura del materiale e risalire quindi alle possibili cause di innesco della frattura/cricca.

Failure analysis su un giunto omocinetico(CV), organo di trasmissione essenziale che trasmette la trazione dagli assi alle ruote motrici. L’articolazione omocinetica funziona sotto stress torsionale, quindi può soffrire di cedimento torsionale, soprattutto in condizioni di affaticamento.

Analisi in sezione della zona fratturata che evidenzia difetti nella struttura interna legati alla produzione del materiale. Durante l’assemblaggio, quando viene applicata la forza per serrare la parte metallica, questi difetti causano l’inizio e l’estensione di crepe a causa della concentrazione delle sollecitazioni, che alla fine portano alla frattura della parte.

Un ulteriore strumento di indagine, in grado di fornire preziose informazioni sulla composizione chimica del campione, è la microanalisi EDS che può essere utile per identificare contaminazioni, impurità o variazioni nella composizione del materiale che potrebbero essere associate ad un guasto.

*Esempi di mappature EDS compiute su superfici metalliche*

L’uso di un SEM da banco come ParticleX permette di eseguire indagini automatizzate sull’acciaio alla ricerca di eventuali inclusioni non metalliche, che possono fungere da punti di innesco sul pezzo finito.

*Esempi di report di analisi eseguite con ParticleX Steel, che permette di caratterizzare e numero, dimensione, forma, distribuzione e composizione di inclusioni non metalliche*

Tecnica

Microscopia elettronica a scansione (SEM)

Prodotti

Tutti i prodotti

Phenom ParticleX

Brand: Thermo Fisher Scientific

Tecnica: Microscopia elettronica, EDX/EDS

Applicazione: Advanced materials, Automotive e aerospaziale, Batterie, Ceramico, Cosmetico e Consumer products, Dispersioni colloidali e nanoparticelle, Elettronica, Energia e ambiente, Failure Analysis, Farmaceutico, Additive manufacturing e 3D Printing, Polimeri e plastiche

SEM da banco Phenom XL G2